四川省电子学会电子产品可靠性学术研讨会顺利召开

四川省电子学会电子产品可靠性学术研讨会顺利召开

作者：来源：四川省电子学会录入：sdzxh 责编：admin 添加日期：09年11月03日点击：

四川省电子学会电子产品可靠性学术研讨会顺利召开

按今年工作计划安排，我会于10月27日--10月29日，在成都市天奥宾馆召开了每年一次的电子产品可靠性学术研讨会，与会代表30多人。

本次会议就以下主要内容展开研讨：

1、会议特别邀请了微电子器件专家，成都电子科技大学博士导师张开华教授主讲“微电子器件的可靠性”；受到与会者的欢迎。

2、会上重点就电子元器件应用、检测、控制及筛选方面的前沿、热点问题进行学术交流。交流经验的有：航天科技集团--北京华峰测控公司肖兵经理介绍最近研发的“8000系列元器件测试系统”；成都必瑞特商贸有限公司姚辉总经理介绍了“热像仪产品及应用样本”；九院五所介绍“FPGA测试技术及ATE实现”；航天七院元器件监测站介绍“晶振、钟振的测试”；中电十所检测中心介绍“SMD筛选”等，并于10月29日下午，组织参观了中电集团十所的检测、筛选试验室。会议按计划圆满结束。

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09年11月03日

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